專利計量指標(biāo)研究述評 發(fā)明專利申請最快時間

　　[摘要]就當(dāng)前國內(nèi)外主要的專利計量指標(biāo)，從適用性的角度將其劃分為宏觀、中觀和微觀三個層次，并就其計算方法和表征意義進(jìn)行詳細(xì)介紹。通過分析發(fā)現(xiàn)，專利指標(biāo)主要從量、率和質(zhì)的角度，體現(xiàn)宏觀技術(shù)領(lǐng)域、中現(xiàn)具體企業(yè)和微觀專利文獻(xiàn)方面的差異。最后，對當(dāng)前專利計量指標(biāo)應(yīng)用過程中存在的一些問題進(jìn)行探討，尤其是對我國專利計量中存在的一些獨(dú)特問題進(jìn)行較為深入的剖解，希望可以對相關(guān)政策制定和產(chǎn)業(yè)布局規(guī)劃提供一定的參考。
　　[關(guān)鍵詞]專利計量　指標(biāo)　計算方法　表征意叉
　　[分類號]G35
　　
　　　1　引言
　　專利計量作為專利分析方面的一種重要方法，一方面可以反映一個國家或地區(qū)的技術(shù)實(shí)力和創(chuàng)新能力；另一方面也可以在宏觀和中觀層面反映某一產(chǎn)業(yè)和具體企業(yè)的發(fā)明活動、技術(shù)水準(zhǔn)及其在科學(xué)技術(shù)與?濟(jì)競爭中的地位和貢獻(xiàn)等，甚至也可以應(yīng)用于微觀層面特定專利的質(zhì)量評價中。指標(biāo)作為專利計量方法中的主要組成部分，在量化宏觀、中觀和微觀層面的技術(shù)水準(zhǔn)方面有重要的應(yīng)用。
　　盡管部分專家學(xué)者對專利計量的研究也涉及了宏觀、中觀和微觀三個層次的計量指針劃分，且以全球有機(jī)電激發(fā)光技術(shù)相關(guān)專利做了實(shí)證分析，但卻并未對這三個層次的專利計量指針作出系統(tǒng)詳細(xì)的闡述和應(yīng)用分析，同時也未對當(dāng)前專利計量分析中存在的一些問題予以分析討論。鑒于此，本文深入了解目前國內(nèi)外的主要計量指標(biāo)，從適用性的角度，將其劃分為宏觀、中觀和微觀三個層次，以期能夠客觀地評價某一產(chǎn)業(yè)、具體企業(yè)和特定專利文獻(xiàn)的技術(shù)創(chuàng)新水平。
　　
　　2　專利計量指標(biāo)及其應(yīng)用分析
　　
　　當(dāng)前，國內(nèi)外的專利計量指標(biāo)有很多，目，其巾多數(shù)指標(biāo)既可以應(yīng)用于宏觀層面關(guān)于產(chǎn)業(yè)的科學(xué)技術(shù)水準(zhǔn)衡量，也可以應(yīng)用于不同企業(yè)的科學(xué)技術(shù)水準(zhǔn)或創(chuàng)新能力比較，又或用于特定專利的技術(shù)力量或創(chuàng)新程度估計等。不過，筆者認(rèn)為宏觀層面的專利計量指針，更多的應(yīng)該是強(qiáng)調(diào)“量”的變化，即反映整體行業(yè)的科學(xué)技術(shù)水準(zhǔn)變化或整個行業(yè)當(dāng)前的發(fā)展現(xiàn)狀及其趨勢等；而中觀層面，則應(yīng)該關(guān)注于“率”的變迂，即度量具體企業(yè)在整個行業(yè)中所處的地位及其未來變化等；最后在微觀層而，則強(qiáng)調(diào)具體專利的“質(zhì)”的差異，即不同專利發(fā)明活動的創(chuàng)新程度、?濟(jì)價值等之間的差異。
　　
　　2.1　宏觀專利計量指標(biāo)及其應(yīng)用
　　宏觀層面的專利計量指針是用于衡量某一技術(shù)領(lǐng)域的發(fā)明活動或其發(fā)展?fàn)顩r的。這些指標(biāo)一方面通過整個行業(yè)的專利數(shù)量變化，反映了該領(lǐng)域的發(fā)展?fàn)顩r；另一方面，根據(jù)技術(shù)生命周期理論――技術(shù)發(fā)展的軌跡，即由誕生到壯大再到衰退的路線，區(qū)別開不同技術(shù)的發(fā)展階段。宏觀專利汁量指標(biāo)如表1所示：
　　上述9個指標(biāo)，歷年專利授權(quán)量和技術(shù)集中度具有普適意義，可以運(yùn)用到任何技術(shù)領(lǐng)域的分析；技術(shù)生長率、技術(shù)成熟系數(shù)和技術(shù)衰老系數(shù)，則充分應(yīng)用r發(fā)明、實(shí)用新型和外觀沒計這三類專利間的創(chuàng)新水平差異，這樣的指標(biāo)具有領(lǐng)域相關(guān)性，不同行業(yè)問的差異比較大；技術(shù)強(qiáng)度指標(biāo)則是取兩個指標(biāo)“專利數(shù)”和“當(dāng)前影響指數(shù)”的長處，形成的一個新的指針，在顯示技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)創(chuàng)新水平方面有較好的應(yīng)用。至于美國授權(quán)專利量、三方專利量和PCT中清數(shù)，一方面充分考慮了不同國家專利局在權(quán)威性方面的差異；另一方面又杜絕了“本土優(yōu)勢”的影響，在顯示技術(shù)領(lǐng)域巾不同國家間的技術(shù)實(shí)力差異方面，具有更好的效果。對此，Zan Huang、Fang-Mei Tseng、周文彥、Lee s等人對具體的領(lǐng)域進(jìn)行了應(yīng)用。
　　
　　2.2　中觀專利計量指標(biāo)及其應(yīng)用
　　中觀層而更多的是區(qū)分具體企業(yè)在這個領(lǐng)域中的地位，顯示不同企業(yè)問的技術(shù)水準(zhǔn)差距，敝多數(shù)的計量指標(biāo)需要反映出該企業(yè)在此行業(yè)中的“率”變，見表2。
　　
　　
　　中觀層次的計量指針，從專利類型、專利量變、與科學(xué)的聯(lián)系、專利引用、專利被引等多個角度的率變，衡量了企業(yè)的科研能力、技術(shù)水準(zhǔn)、創(chuàng)新程度等，從而更客觀地反映了該企業(yè)在特定技術(shù)領(lǐng)域所處的地位。就具體企業(yè)而言，專利授權(quán)率、專利增長率、技術(shù)力量、企業(yè)研發(fā)重點(diǎn)、企業(yè)活性因子、技術(shù)獨(dú)立性、專利效率等指標(biāo)所涉及到的專利數(shù)據(jù)，一方面容易獲得，另一方面計算方法也易于實(shí)現(xiàn)。而相對研發(fā)能力、相對專利被引證率、引用頻率、科學(xué)關(guān)聯(lián)度、H指數(shù)等指標(biāo)，就需要借助權(quán)威的專利數(shù)據(jù)庫，通過計算競爭企業(yè)的對應(yīng)指標(biāo)值，在比較的基礎(chǔ)上，發(fā)掘自身企業(yè)的技術(shù)優(yōu)勢與劣勢，以便為企業(yè)制定“跟隨型企業(yè)戰(zhàn)略”、“防守型企業(yè)戰(zhàn)略”等提供參考。其中，Li Y R和Li T Y、CozijnP W、欒春娟等人、官建成等人、邱均平等人。對具體的企業(yè)進(jìn)行了評價分析。
　　
　　2.3　微觀專利計量指標(biāo)及其應(yīng)用
　　微觀層而的專利計量指標(biāo)，通過多個角度的比較分析，反映了單件專利文獻(xiàn)的“質(zhì)”的區(qū)別，揭示了具體專利的質(zhì)量和創(chuàng)新水平以及其可能的?濟(jì)價值，見表3。
　　微觀層次的專利計量指針，充分結(jié)合專利說明書中的主要特征項(分類代碼、引文類型、權(quán)利要求項、同族專利、申請時間、授權(quán)時間、發(fā)明人等)問的不同含義及其表征意義，通過分析不同專利間特征項問的差異，辨識專利的質(zhì)量和創(chuàng)新水平。其中，科學(xué)關(guān)聯(lián)性、前向引文量、后向引文量、第一次被其他企業(yè)所引用的時問等與專利引文相關(guān)的指標(biāo)，在表征具體專利文獻(xiàn)的質(zhì)量、創(chuàng)新水平方而，具有廣泛的應(yīng)用；技術(shù)覆蓋范圍、權(quán)力要求數(shù)、同族專利數(shù)量和發(fā)明人數(shù)這四個指標(biāo)，對于無引文的專利文獻(xiàn)而言，是很好的選擇。至于指標(biāo)“專利名稱和摘要”，在判斷專利文獻(xiàn)的技術(shù)水準(zhǔn)、?濟(jì)價值方面，是比較有效的指標(biāo)，不過，對該指標(biāo)的分析要求領(lǐng)域內(nèi)的專家方可。Yi-Hsuan Lai和Hui-ChungChe、Martinez-Ruiz A、Jansen W和Risov M、Kas Kasravi都從微觀層面對專利文獻(xiàn)進(jìn)行了分析。
　　
　　3　總結(jié)
　　
　　?過多年的發(fā)展和完善，美國、日本等發(fā)達(dá)國家的專利計量指針在國家層面的應(yīng)用，已?獲得了豐富的實(shí)踐檢驗(yàn)，包括在科學(xué)技術(shù)評價、知識產(chǎn)權(quán)實(shí)力等方面的計量分析；同時在宏觀、中觀和微觀三個層面的計量指針也已基本形成。但是，當(dāng)前的專利計量指標(biāo)也存在著一定的問題。例如，計量中指針與數(shù)據(jù)概念混淆(指針是用于明確地解決一些猜想的度量方法)；計量中以指針為導(dǎo)向，而不是以問題為導(dǎo)向；計量中不區(qū)分領(lǐng)域間的差異，一味套用現(xiàn)成的指標(biāo)等。同時應(yīng)該注意的是，盡管專利計量指標(biāo)可以對技術(shù)領(lǐng)域、具體行業(yè)或特定專利進(jìn)行量化分析，但是并不能完全取代專家在專利計量分析中的作用，最好是結(jié)合二者的優(yōu)點(diǎn)，構(gòu)建以專利計量指標(biāo)量化分析為主，以專家評議為輔的計量體系。
　　然而，相對于國外較為完善的專利數(shù)據(jù)庫，我國的專利文獻(xiàn)數(shù)據(jù)庫中沒有專利引文，這樣國外計量指標(biāo)體系中非常重要的引文計量指標(biāo)就不能應(yīng)用于我國的專利計量分析中，從而使得我國的專利計量指標(biāo)體系巾缺乏合適的可以借鑒的用于評估具體單件專利價值的指針。與此同時，技術(shù)作為一個復(fù)雜適應(yīng)系統(tǒng)，而專利指針作為度量技術(shù)水準(zhǔn)的重要手段，如果專利計量僅僅從宏觀、中觀和微觀三個孤立的層次進(jìn)行分析，而不考慮其各個層次問的關(guān)聯(lián)，就會破壞技術(shù)的系統(tǒng)特性，從而影響到通過專利計量分析技術(shù)水準(zhǔn)的有效性。
　　針對目前已有的被機(jī)械割裂開來的三層次專利計量體系所存在的問題，可以嘗試借鑒學(xué)科知識測度體系的理念，構(gòu)建基于專利知識網(wǎng)絡(luò)的專利知識測度指針體系，即深入到專利文獻(xiàn)的篇章內(nèi)部，以專利知識單元為基本組成單位，以專利知識鏈(表征專利知識單元問的各種關(guān)聯(lián)，如共現(xiàn)、依存等)為主要連結(jié)途徑構(gòu)建的專利知識網(wǎng)絡(luò)測度。
　　
　　[作者簡介]高繼平,男,1983年生,博士研究生,發(fā)表論文7篇.丁?,女,1962年生,教授,博士,發(fā)表論文50余篇.

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